深圳普云PY-E518溫濕度振動三綜合試驗箱 可連接垂直振動臺面或同時連接垂直、水平振動臺面；可選擇設(shè)備升降、設(shè)備平移等功能；高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性；工作室材料為SUS304不銹鋼- 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強，使用壽命長；高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到*小；高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性。

深圳市普云電子有限公司出品的PY-E518溫度/濕度/振動三綜合環(huán)境試驗箱，是在試驗時將溫度、濕度、振動（高溫或低溫）、正弦振動或隨機振動以及電應(yīng)力按規(guī)定的周期綜合在同一氣候試驗箱中施加到樣品上進行溫度、濕度振動的綜合試驗。廣泛應(yīng)用于航空、航天船舶、電工、電子、通訊等領(lǐng)域。

 *設(shè)備滿足以下標準：

GB/T 10592 -2008  高低溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T 10586 -2006  濕熱試驗箱技術(shù)條件

GB/T 2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

GB/T 2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

GB/T 2423.3-2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗

GB/T 2423.4-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）

GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化

GB/T 5170.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則

GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗

GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗

GJB 150.9A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗

* 選擇不同的振動臺體可滿足不同的振動標準試驗方法

（例如：GB/T 2423.35-2005、GB/T 2423.36-2005等）。

PY-E518溫濕度振動三綜合試驗箱技術(shù)規(guī)格：

濕度振動復(fù)合試驗箱應(yīng)用可為用戶檢驗、檢測電子電工元器件、零配件或相關(guān)行業(yè)的實驗部門提供一個模擬環(huán)境，為測試數(shù)據(jù)的準確性和*性（可重復(fù)）提供*條件。結(jié)構(gòu)一體化程度高，在客戶端裝配調(diào)試時間短；科學(xué)的空氣流通設(shè)計，使室內(nèi)溫濕度均勻，避免任何死角；完備的安全保護裝置，避免了任何可能發(fā)生的安全隱患，保證設(shè)備的長期可靠性；每個產(chǎn)品都根據(jù)客戶的要求訂做，保證了設(shè)備的高效，節(jié)能。

技術(shù)參數(shù)

溫度范圍：-70-+150℃

溫度波動度：±0.5℃（常壓，空載）

溫度均勻度：≤2℃（常壓，空載

溫度偏差：≤±2℃（常壓，空載）

升降溫速率：可選速度范圍：3℃/min-15℃/min(全程平均.-55-+80℃)

溫度范圍：20-98％RH

濕度偏差：-3-+2%R.H(75%R.H以上).±5%（75%R.H.以下）

溫度控制：

*可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；

*全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯；

*每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設(shè)置短路保護，確保了設(shè)備運行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；

*接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；

*采用國際流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；

深圳市普云電子有限公司生產(chǎn)模擬氣候環(huán)境試驗箱與可靠性測試設(shè)備：恒溫恒濕房、恒溫恒濕試驗箱、 高低溫交變試驗箱、冷熱沖擊循環(huán)試驗箱、快速濕熱交變試驗箱、鹽霧腐蝕試驗箱、霉菌淋雨砂塵氙燈老化試驗箱、高溫低溫箱等。