深圳市普云電子有限公司PY-E516系列兩三廂式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，又名冷熱沖擊測試箱，高低溫沖擊試驗(yàn)箱 ，冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容；

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)常見的測試設(shè)備， 用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)ji高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。分為兩廂式和三廂式，區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同，產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A 、GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗(yàn)的要求。

深圳市普云電子有限公司出品的PY-E516系列高低溫沖擊試驗(yàn)箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber適用于考核產(chǎn)品（整機(jī)）、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)軌蛄私庠囼?yàn)樣品一次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗(yàn)的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間、以及試驗(yàn)的循環(huán)次數(shù)等因素。

高低溫沖擊試驗(yàn)箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber技術(shù)參數(shù) :

PY-E516系列冷熱沖擊測試箱 Hot And Cold Shock Test Chamber可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能

*溫度控制
可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過程的全程記錄和追溯；
每臺電機(jī)均配置過流（過熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；

*冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009 jun用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 jun用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)
GJB 150.5A-2009 jun用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)

深圳市普云電子有限公司PY-E516系列兩三廂式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的使用注意事項(xiàng)：

1.于操作當(dāng)中，除非有絕對必要，請不要打開箱門，否則可能導(dǎo)致下列不良的后果。

.高溫?zé)釟鉀_出箱外十分危險(xiǎn)。

.箱門內(nèi)側(cè)仍然保持高溫造成燙傷。

.高溫空氣可能觸發(fā)火災(zāi)警報(bào)，產(chǎn)生誤動(dòng)作。

2.請注意本機(jī)必須安全確實(shí)接地，以免產(chǎn)生靜電感應(yīng)。

3.避免于三分鐘內(nèi)關(guān)閉再開啟冷凍機(jī)組。

4.如果箱內(nèi)放置發(fā)熱試料時(shí)，試料電源控制請使用外加電源，不要直接使用本機(jī)電源。

5.無熔絲開關(guān)(電路斷路器)、溫度超溫保護(hù)器，提供本機(jī)測試品以及操作者的安全保護(hù)，故請定期檢查。

6.絕對禁止試驗(yàn)爆炸性，可燃性及高腐蝕性物質(zhì)。

7.請?jiān)旈喺f明書后，方可操作本機(jī)。